CST-50冲击试样缺口投影仪

   冲击试样缺口投影仪是根据GB/T229－94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的，用于检测冲击试验缺口是否合格的检测设备，该仪器是利用光学投影的原理将被测的冲击试样U型和V型缺口与标准板图对比以确定被检测的冲击试样加工是否合格。该商泰冲击试样缺口投影仪操作简便，检查对比直观、效率高，是冲击试样加工过程的检测设备。

一、工作原理：

    冲击试样缺口投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

二、主要技术参数：

1.投影屏直径： 180mm

2.工作台尺寸： 方工作台尺寸      110×125mm

圆工作台直径      90mm

工作台玻璃直径    70mm

3.工作台行程：  纵向     ±10mm

横向     ±10mm 

升降    ±12mm（无刻度）

4.工作台转动范围：  0~360°（无刻度）

5.仪器放大倍率：      50X

物镜放大倍率：     2.5X

投影物镜放大倍率：20X

6.光源（卤钨灯）： 12V    100W

7.电源：  220V    50Hz

8.外形尺寸： 515×224×603mm（长×宽×高）